Gemeinschaftsausschuss Rasterelektronenmikroskopie | Arbeitsgemeinschaft Fraktographie

Am 20. November 2020 wurde unter Leitung von Herrn Dr.-Ing Dirk Bettge (Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung, BAM) das 13. Treffen der Arbeitsgemeinschaft Fraktographie im DVM/DGM-Gemeinschaftsausschuss "Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung" abgehalten. Aufgrund der aktuellen Pandemie-Lage hat das Treffen erstmals komplett online stattgefunden. Die Technik hierfür hat die Deutsche Gesellschaft für Materialkunde via „Zoom“ beigesteuert, die Veranstaltung zudem personell betreut.

 

Insgesamt 92 Teilnehmer/innen aus Industrie und Forschungsinstituten hatten sich ange­meldet und haben an dem Treffen praktisch vollzählig teilgenommen – in der Spitze 90 Personen gleichzeitig. Dieses erfreuliche und unerwartet große Interesse spricht dafür, die AG-Treffen auch zukünftig mit einer Online-Übertragung zu verbinden, auch wenn wieder Präsenztreffen stattfinden (Hybrid-Veranstaltung).

Themen des Treffens waren Anwendungen der Fraktographie als Instrument der Schadens­analyse in Forschung und Industrie, aktuelle Entwicklungen auf dem Gebiet der Software-unterstützen Analyse von Bruchflächen sowie Berichte der Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) zur Erzeugung und Analyse von Bruchflächen sowie zum Fortschritt der fraktographischen Online-Datenbank, die in der Arbeitsgemeinschaft Fraktographie betrieben wird. Diese Datenbank enthält aktuell gut 330 Datensätze mit insgesamt ca. 3.500 Bildern. Erfreulich viele Mitglieder der Arbeitsgemeinschaft haben mittlerweile Beiträge zum Aufbau der Online-Datenbank geleistet, sei es in Form von Proben, Werkstoffen oder Bildmaterial.

Das nächste Treffen soll als Hybrid-Veranstaltung in einem Jahr an der BAM in Berlin sowie online stattfinden – als Termin wird Freitag, der 19. November 2021 (alternativ: 26. November 2021) .

Zu diesem Treffen sind wieder alle Interessenten herzlich eingeladen. Die Teilnahme ist kostenlos, (Kurz‑)Vorträge und Diskussionsbeiträge von Seiten der Teilnehmer sind erwünscht. Weitere Informationen folgen  

 

Dr.-Ing. Dirk Bettge
Leiter Arbeitsgemeinschaft Fraktographie im Gemeinschaftsausschuss Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung

 

Informationen zu allen Fachausschüssen können Sie über die DGM-Homepage abrufen.

Wenn Sie Interesse haben, in einem der Ausschüsse aktiv mitzuwirken, schreiben Sie uns eine kurze Mail an fachgremien@dgm.de

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