Fortschritte, Fachwissen und Netzwerkchancen in Berlin beim Arbeitskreistreffen Röntgentomographie

Vorabendtreffen in lockerer Atmosphäre, vielseitige Vorträge und eine eindrucksvolle Laborführung – Das Arbeitskreistreffen Röntgentomographie präsentierte eine facettenreiche Kombination aus Fachwissen, praktischer Anschauung und Netzwerkchancen vom 26. – 27. November 2024 in Berlin.

Röntgentomographie: ein Werkzeug für Forschung und Qualitätssicherung 

Bei Produktionsabläufen, Qualitätsüberwachung sowie Forschung und Entwicklung sind die Anwendungen von Röntgentechnologien in den Materialwissenschaften und Materialanalysen vielseitig. Röntgenbasierte Verfahren ermöglichen zuverlässige bildgebende Analysen, um Gefügeänderungen im Inneren von Werkstoffen zu identifizieren und versteckte Merkmale zu entdecken. 

Aktuelle Fortschritte und interdisziplinäre Themen 

Das Treffen wurde vom DGM-Arbeitskreis des Fachausschusses Materialographie organisiert und begann mit einem Vorabendtreffen, bei dem sich die Teilnehmenden in informeller Atmosphäre auf das fachliche Programm einstimmen konnten. 

Am 27. November 2024 eröffnete der AK-Vorsitzende, Prof. Dr. Guillermo Requena, zusammen mit seinem Stellvertreter, Prof. Dr. Ehrenfried Zschech, die Sitzung. Insgesamt elf Expert*innen aus acht Organisationen der Forschung und Industrie nahmen teil. 

Fachvorträge zur aktuellen Entwicklung der Röntgentomographie
Sechs Vorträge von Expert*innen aus den Gebieten der Materials Science, Energy Materials, Structural Materials, development of X-Ray imaging hardware, in situ X-ray imaging, Mathematics, Engineering Materials, Materials Physics, Materials Processing und Materials kinetics bildeten die Basis für den fachlichen Dialog und die anschließenden Diskussionen:

  • XCT of commercial battery cells, Shahabeddin Dayani – BAM  
  • Integrity of low Temperature Co-Fired Ceramics (LTCC) for electronic applications, Mustapha Eddah – BAM 
  • Fracture behavior of on-chip interconnect structures investigated through in-situ X-ray tomography, Stefan Weitz – Fraunhofer IKTS 
  • Intermittent in-situ high-resolution X-ray microscopy of porous materials under uniaxial compression, Juliana Martins-Schalinski – MLU Halle 
  • Trustworthy AI for the Segmentation of complex Synchrotron Data, David Melching – DLR 
  • XCT Capabilities at BAM, Giovanni Bruno – BAM

Ein gelungenes Treffen mit Perspektive 

Die Arbeitskreissitzung endete am Mittwochnachmittag mit einer Besichtigung der Laboren Labore Röntgenrefraktionsradiographie und Computertomographie der BAM – zur vollen Zufriedenheit aller Anwesenden. 

Informationen zu allen Fachausschüssen können Sie über die DGM-Homepage unter https://dgm.de/de/netzwerk abrufen.
Wenn Sie Interesse haben, in einem der Ausschüsse aktiv mitzuwirken, schreiben Sie uns eine kurze Mail an fachgremiendgm.de 

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