16. Sitzung der AG Fraktographie im DVM-DGM Gemeinschaftsausschuss „Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung"

Beim 16. Treffen der AG Fraktographie im DVM/DGM-Gemeinschaftsausschuss "Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung", versammelten sich Fachleute aus Industrie und Forschung, um neueste Erkenntnisse und Fortschritte in der Fraktographie und Materialanalyse zu erörtern. Die Veranstaltung am 17. November 2023, geleitet von Dr.-Ing. Dirk Bettge von der BAM, zeichnete sich durch ein innovatives hybrides Format aus, das sowohl eine persönliche Teilnahme in Berlin als auch online ermöglichte.

Das 16. Treffen der AG Fraktographie im DVM-DGM Gemeinschaftsausschuss „Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung“ war erneut ein bedeutendes Ereignis für Fachleute in der Materialwissenschaft und Werkstofftechnik. Mit einer Teilnahme von 95 Expertinnen und Experten, darunter 10 in der Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) in Berlin und 85, die sich online zuschalteten, diente die Veranstaltung als wertvolle Gelegenheit zum Austausch über aktuelle Forschung und Entwicklungen in der Materialprüfung.

Der Fokus lag auf einer Vielzahl von Themen, darunter die detaillierte Betrachtung spezieller Bruchmerkmale, ihre Ursachen und die Darstellung fraktographischer Resultate. Berichtet wurde auch über das abgeschlossene AiF-Vorhaben zur Bruchanalyse mittels MachineLearning, und über die weiteren diesbezüglichen Aktivitäten von BAM und der Gesellschaft zur Förderung angewandter Informatik (GFaI).

Der laufende Ringversuch zum Thema REM-Kalibrierung und Quantitative Fraktographie, der sich als aufwändiger als erwartet erwiesen hat, wird bis ins nächste Jahr hinein fortgesetzt. 

Fraktographische Online-Datenbank

Zusätzlich wurden Fortbildungsaktivitäten und der Ausbau der fraktographischen Online-Datenbank thematisiert. Erfreulich viele Mitglieder der AG Fraktographie haben mittlerweile Beiträge zum Aufbau der Online-Datenbank geleistet, sei es in Form von Proben, Werkstoffen oder Bildmaterial. Der Bestand an Daten beträgt somit derzeit ca. 4.500 Bilder in gut 400 Datensätzen. Sie steht Interessierten zur Verfügung, die per formloser E-Mail einen Lesezugang anfragen können.

Die Teilnehmenden wurden ermutigt, ihre Archive nach Beispielen für die Datenbank zu durchforsten und bei aktuellen oder geplanten Projekten zusätzliche Bilder für die Datenbank zu generieren. Die BAM unterstützt dabei, das Bildmaterial zu katalogisieren und interessante Bruchflächen zum Zweck des wissenschaftlichen Diskurses zu untersuchen. Quelle und Autorenschaft von Proben bzw. Daten werden dabei gern dankend erwähnt.

Vielen Dank an alle Teilnehmenden der AG Sitzung und insbesondere an den Leiter Herr Dr.-Ing. Dirk Bettge. Das nächste Treffen ist für November 2024 angesetzt und verspricht, die Fortschritte im Bereich der Materialprüfung weiter zu vertiefen.

Bei Interesse an einer Mitarbeit im DVM/DGM-Gemeinschaftsausschuss "Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung“ melden Sie sich sehr gerne bei Dr.-Ing. Bettge oder bei der DGM.

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