Gemeinschaftssausschuss
Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung

Seit ihrer Einführung in den 60er Jahren entwickelte sich die Rasterelektronenmikroskopie rasch zu einem sehr flexiblen, unverzichtbaren Werkzeug der Materialprüfung. Bereits 1970 wurde dieser Gemeinschaftsausschuss durch Professor Otto Schaaber mit dem Ziel ins Leben gerufen, den fachlichen Erfahrungsaustausch bei der Anwendung des Rasterelektronenmikroskops in allen Bereichen der Materialforschung und Materialprüfung zu gestalten.

Die Trägergesellschaften sind der Deutsche Verband für Materialforschung und -prüfung e.V. (DVM) und die Deutsche Gesellschaft für Materialkunde e.V. (DGM).

AGB Datenschutzerklärung Kartellrechtlicher Hinweis Kontakt Impressum