Working Group

FIB applications in materials characterization

Committee members: 1
Structure

Expert Committee

Materialography

Events
No upcoming events
  • Aufgreifen von industriellen und wissenschaftlichen Fragestellungen auf dem Gebiet der Focused Ion Beam (FIB)
  • Anwendungen in der Materialographie:
  • Probenpräparation für die Transmissionselektronenmikroskopie (einschließlich lift-out Techniken)
  • Querschnittspräparationen für die Rasterelektronenmikroskopie
  • Kontrastierungsverfahren für die Rasterelektronenmikroskopie (Orientierungskontrast durch Canneling, Materialkontrast infolge unterschiedlicher Abtragsraten, etc.)
  • FIB-Tomographie
  • Mikrobearbeitung (Micromachining)
  • Erarbeiten eines wissenschaftlich fundierten Verständnisses für die Wechselwirkungsprozesse bei der Materialbearbeitung
  • Initiieren von Forschungs- und Entwicklungsvorhaben: Gemeinsame Projekte von Forschungsinstituten, Anwenderindustrie und Geräteherstellern
  • Projekte zur Optimierung der Probenqualität und zur Verringerung der Gesamtpräparationszeit
  • Erfahrungsaustausch zwischen Gruppen, die auf dem Gebiet der FIB-Anwendung in der Materialographie arbeiten
  • Erarbeitung von Empfehlungen/Entwicklungsanforderungen für die FIB-Gerätehersteller

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