Quantitative 3-D Mikroskopie von Oberflächen

Quantitative 3‑D-Mikroskopie von Oberflächen umfasst konfokale Mikroskopie, Weißlichtinterferometrie, Profilometrie und AFM zur präzisen Höhenmessung und Topografierekonstruktion. Metriken wie Rauheit, Leistungsparameter für Haftung und Kontaktmechanik sowie statistische Analysen ermöglichen objektive Oberflächencharakterisierungen für Forschung und Qualitätssicherung.

Gremien

  • Arbeitskreis

    Quantitative 3-D Mikroskopie von Oberflächen

    Gremienmitglieder: 70
    Leitung
    Thorsten Dziomba
    Physikalisch-Technische Bundesanstalt
    Stellv. Leitung
    André Felgner
    Physikalisch-Technische Bundesanstalt