FIB - Anwendungen in der Materialographie
-
Arbeitskreis
ASMET Unterausschuss Metallographie und Mikrostrukturanalyse
-
Arbeitskreis
Regionale Arbeitskreise im FA Materialographie
Arbeitskreis
Archäo-Materialographie
Arbeitskreis
Atomsondentomographie
Arbeitskreis
Ausbildung
Arbeitskreis
Bauteilmetallographie
Arbeitskreis
Elektronentomographie
Arbeitskreis
FIB - Anwendungen in der Materialographie
Arbeitskreis
Fraktographie
Arbeitskreis
In situ 2D und 3D Charakterisierung
Arbeitskreis
Koordinierung im FA Materialographie
Arbeitskreis
Materialographie im Internet
Arbeitskreis
Mikrostrukturcharakterisierung im Rasterelektronenmikroskop (EBSD)
Arbeitskreis
Probenpräparation
Arbeitskreis
Quantitative 3-D Mikroskopie von Oberflächen
Arbeitskreis
Quantitative Gefügeanalyse
Arbeitskreis
Rasterkraftmikroskopie und nanomechanische Methoden
Arbeitskreis
Aalener/Stuttgarter Metallographietreffen
Arbeitskreis
Arbeitskreis Metallographie Aachen
Arbeitskreis
Interessenkreis Materialographie Clausthal
Arbeitskreis
Metallo-Treff Berlin
Arbeitskreis
Metallographie Regionalgruppe Sachsen
Arbeitskreis
Metallographie Stammtisch München
Arbeitskreis
Metallographiekreis Thüringen
Arbeitskreis
Metallographischer Erfahrungsaustausch Rhein/Main
Arbeitskreis
Regionalforum Materialographie Saar
Arbeitskreis
Regionalgruppe Materialographie Nord
Arbeitskreis
gmr2-Gesellschaft für Materialographie Rhein/Ruhr e.V.
Arbeitskreis
Röntgentomographie
Arbeitskreis
Serienschnitt-Tomographie
- Aufgreifen von industriellen und wissenschaftlichen Fragestellungen auf dem Gebiet der Focused Ion Beam (FIB)
- Anwendungen in der Materialographie:
- Probenpräparation für die Transmissionselektronenmikroskopie (einschließlich lift-out Techniken)
- Querschnittspräparationen für die Rasterelektronenmikroskopie
- Kontrastierungsverfahren für die Rasterelektronenmikroskopie (Orientierungskontrast durch Canneling, Materialkontrast infolge unterschiedlicher Abtragsraten, etc.)
- FIB-Tomographie
- Mikrobearbeitung (Micromachining)
- Erarbeiten eines wissenschaftlich fundierten Verständnisses für die Wechselwirkungsprozesse bei der Materialbearbeitung
- Initiieren von Forschungs- und Entwicklungsvorhaben: Gemeinsame Projekte von Forschungsinstituten, Anwenderindustrie und Geräteherstellern
- Projekte zur Optimierung der Probenqualität und zur Verringerung der Gesamtpräparationszeit
- Erfahrungsaustausch zwischen Gruppen, die auf dem Gebiet der FIB-Anwendung in der Materialographie arbeiten
- Erarbeitung von Empfehlungen/Entwicklungsanforderungen für die FIB-Gerätehersteller
Newsletter abonnieren
Abonnieren Sie unseren Newsletter und erhalten Sie regelmäßig Informationen zum Thema Materialwissenschaft und Werkstofftechnik!
Nach der Anmeldung erhalten Sie von uns eine E-Mail mit einem
Bestätigungslink.
Erst mit Anklicken dieses Links ist Ihre Anmeldung abgeschlossen.