Aufgreifen von industriellen und wissenschaftlichen Fragestellungen auf dem Gebiet der Focused Ion Beam (FIB)
Anwendungen in der Materialographie:
Probenpräparation für die Transmissionselektronenmikroskopie (einschließlich lift-out Techniken)
Querschnittspräparationen für die Rasterelektronenmikroskopie
Kontrastierungsverfahren für die Rasterelektronenmikroskopie (Orientierungskontrast durch Canneling, Materialkontrast infolge unterschiedlicher Abtragsraten, etc.)
FIB-Tomographie
Mikrobearbeitung (Micromachining)
Erarbeiten eines wissenschaftlich fundierten Verständnisses für die Wechselwirkungsprozesse bei der Materialbearbeitung
Initiieren von Forschungs- und Entwicklungsvorhaben: Gemeinsame Projekte von Forschungsinstituten, Anwenderindustrie und Geräteherstellern
Projekte zur Optimierung der Probenqualität und zur Verringerung der Gesamtpräparationszeit
Erfahrungsaustausch zwischen Gruppen, die auf dem Gebiet der FIB-Anwendung in der Materialographie arbeiten
Erarbeitung von Empfehlungen/Entwicklungsanforderungen für die FIB-Gerätehersteller
