Arbeitskreis
FIB - Anwendungen in der Materialographie
Gremienmitglieder: 1
FIB - Anwendungen in der Materialographie
FIB-Anwendungen in der Materialographie nutzen fokussierten Ionenstrahl zum ortsbezogenen Ausprägen, präparieren von TEM-Lamellen, 3D-Serial-Sectioning und Nano-Milling. Kombination mit SEM erlaubt präzise Analyse von Schnittflächen, Defekten und Phasengrenzen bis in den nanoskaligen Bereich.
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