Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung

Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung nutzt Sekundär- und Rückstreuelektronen sowie EDX/EBSD für Morphologie-, Zusammensetzungs- und Kristallographiestudien. In-situ-Stages ermöglichen mechanische, thermische oder Umgebungsprüfungen; Bruchflächen- und Schadensanalysen profitieren von hoher Auflösung und großen Tiefenschärfen.

Gremien

Arbeitskreis

Fraktographie

Gremienmitglieder: 125

Leitung

Dr.-Ing. Dirk Bettge

Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Arbeitskreis

In situ 2D und 3D Charakterisierung

Gremienmitglieder: 119

Leitung

PD Dr.-Ing. habil. Anja Weidner

Technische Universität Bergakademie Freiberg

Stellv. Leitung

Dr. Enrico Bruder

Technische Universität Darmstadt
Arbeitskreis

Mikrostrukturcharakterisierung im Rasterelektronenmikroskop (EBSD)

Gremienmitglieder: 10

Leitung

Prof. Dr. Andreas Leineweber

Technische Universität Bergakademie Freiberg

Leitung

Dr. Stefan Martin

Technische Universität Bergakademie Freiberg

Leitung

Prof. Dr. Sandra Korte-Kerzel

RWTH Aachen University

Leitung

Lukas Berners (M.Sc.)

RWTH Aachen University

Leitung

Dr.-Ing. Hanka Becker

Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg

Leitung

Dr. Gert Nolze

Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

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