Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung

Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung nutzt Sekundär- und Rückstreuelektronen sowie EDX/EBSD für Morphologie-, Zusammensetzungs- und Kristallographiestudien. In-situ-Stages ermöglichen mechanische, thermische oder Umgebungsprüfungen; Bruchflächen- und Schadensanalysen profitieren von hoher Auflösung und großen Tiefenschärfen.

Gremien

  • Arbeitskreis

    Fraktographie

    Gremienmitglieder: 126
    Leitung
    Dr.-Ing. Dirk Bettge
    Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
  • Arbeitskreis

    In situ 2D und 3D Charakterisierung

    Gremienmitglieder: 119
    Leitung
    PD Dr.-Ing. habil. Anja Weidner
    Technische Universität Bergakademie Freiberg
    Stellv. Leitung
    Dr. Enrico Bruder
    Technische Universität Darmstadt
  • Arbeitskreis

    Mikrostrukturcharakterisierung im Rasterelektronenmikroskop (EBSD)

    Gremienmitglieder: 5
    Leitung
    Dr. Gert Nolze
    Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

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