Arbeitskreis

In situ 2D und 3D Charakterisierung

Gremienmitglieder: 119

Die Arbeitsgruppe „In situ 2D und 3D Charakterisierung“ beschäftigt sich mit der Untersuchung des Ablaufes von Prozessen und Vorgängen am Ort ihres Auftretens während einer entsprechenden Beanspruchung im Rasterelektronenmikroskop. Die Art der Beanspruchung reicht dabei von mechanisch über thermisch bis hin zur Kombination verschiedener Beanspruchungsarten. Im Zentrum des Interesses stehen hier vor allem Verformungs- und Schädigungsmechanismen ebenso wie Prozesse der Phasenumwandlung oder Rekristallisation. Insbesondere die Kinetik dieser Prozesse wird durch die verschiedenen Varianten der in situ-Prüfung im Rasterelektronenmikroskop zugänglich.

Ein Hauptanliegen der AG ist es dabei, die vielfälltigen Aktivitäten auf dem Gebiet der in situ-Prüfung im Rasterelektronenmikroskop zu bündeln und einen intensiven Erfahrungsaustausch zwischen einzelnen Forschungseinrichtungen untereinander als auch mit Geräteherstellern zu generieren. Dabei versteht sich die AG als Plattform sowohl für die Arbeiten im Großkammer-REM, die Untersuchungen bis hin zur Bauteilgeometrie beinhalten, als auch im klassischen REM insbesondere zur Aufklärungen von Verformungs- und Schädigungsmechanismen sowie deren Kinetik.

Die AG wird jährlich zu einem 1.5-tägigen Treffen zusammen kommen und über aktuelle Forschungsergebnisse zu berichten, aber auch gemeinsam Lösungen bei verschiedenen technischen Problemstellungen anzustreben.

Leitung

  • PD Dr.-Ing. habil. Anja Weidner
    Technische Universität Bergakademie Freiberg

Stellv. Leitung

  • Dr. Enrico Bruder
    Technische Universität Darmstadt