Eine Eigenschaftsoptimierungen kristalliner Werkstoffe ist auch möglich, indem die Kristalle während der Entstehung bzw. Bearbeitung gezielt ausgerichtet werden. Die Orientierungen der Kristalle lassen sich lokal aufgelöst im REM mittels Rückstreuelektronenbeugung (EBSD) messtechnisch erfassen und in vielfältiger Weise darstellen. Aus den gewonnen Daten sind neben der kristallographischen Orientierung auch wichtige Aussagen über die Fehlorientierung (z.B. Korngrenzen, Deformationsgrad) ableitbar oder die Phasenverteilung in einem Werkstoff erkennbar.
Arbeitskreis
ASMET Unterausschuss Metallographie und Mikrostrukturanalyse
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Archäo-Materialographie
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Atomsondentomographie
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Ausbildung
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Bauteilmetallographie
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Elektronentomographie
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FIB - Anwendungen in der Materialographie
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Fraktographie
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In situ 2D und 3D Charakterisierung
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Koordinierung im FA Materialographie
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Materialographie im Internet
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Mikrostrukturcharakterisierung im Rasterelektronenmikroskop (EBSD)
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Probenpräparation
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Quantitative 3-D Mikroskopie von Oberflächen
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Quantitative Gefügeanalyse
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Rasterkraftmikroskopie und nanomechanische Methoden
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Regionale Arbeitskreise im FA Materialographie
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Aalener/Stuttgarter Metallographietreffen
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Arbeitskreis Metallographie Aachen
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Interessenkreis Materialographie Clausthal
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Metallo-Treff Berlin
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Metallographie Regionalgruppe Sachsen
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Metallographie Stammtisch München
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Metallographiekreis Thüringen
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Metallographischer Erfahrungsaustausch Rhein/Main
Arbeitskreis
Regionalforum Materialographie Saar
Arbeitskreis
Regionalgruppe Materialographie Nord
Arbeitskreis
gmr2-Gesellschaft für Materialographie Rhein/Ruhr e.V.
Arbeitskreis
Röntgentomographie
Arbeitskreis
Serienschnitt-Tomographie
Der Arbeitskreis richtet sich an alle Interessent*innen, die EBSD als Analysemethode verwenden und Fragen bei deren Einsatz haben. Das beginnt mit der Probenpräparation, die wegen der geringen Informationstiefe entscheidend das Messergebnis beeinflusst, schließt aber auch das Optimieren der Messparameter oder der Datenauswertung mit ein. Hauptziel ist, das generelle Verständnis der Messmethode zu verbessern, um Fehlerquellen rechtzeitig zu erkennen und Fehlinterpretationen weitestgehend zu verhindern.
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