Arbeitskreis

Mikrostrukturcharakterisierung im Rasterelektronenmikroskop (EBSD)

Gremienmitglieder: 10

Eine Eigenschaftsoptimierungen kristalliner Werkstoffe ist auch möglich, indem die Kristalle während der Entstehung bzw. Bearbeitung gezielt ausgerichtet werden. Die Orientierungen der Kristalle lassen sich lokal aufgelöst im REM mittels Rückstreuelektronenbeugung (EBSD) messtechnisch erfassen und in vielfältiger Weise darstellen. Aus den gewonnen Daten sind neben der kristallographischen Orientierung auch wichtige Aussagen über die Fehlorientierung (z.B. Korngrenzen, Deformationsgrad) ableitbar oder die Phasenverteilung in einem Werkstoff erkennbar.

Leitung

  • Dr.-Ing. Hanka Becker
    Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg
  • Lukas Berners (M.Sc.)
    RWTH Aachen University
  • Prof. Dr. Sandra Korte-Kerzel
    RWTH Aachen University
  • Prof. Dr. Andreas Leineweber
    Technische Universität Bergakademie Freiberg
  • Dr. Stefan Martin
    Technische Universität Bergakademie Freiberg
  • Dr. Gert Nolze
    Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
  • Diskussion konkreter, aber allgemeingültiger Fragestellungen zu EBSD
  • Unterstützung bei der Beurteilung methodischer Neuentwicklungen
  • Erhöhung des allgemeinen Verständnisses zu Möglichkeiten aber auch Grenzen von EBSD
  • Plattform zum Erfahrungsaustausch, z.B. zu konkreten Problemen bei der Probenpräparation    

Der Arbeitskreis richtet sich an alle Interessent*innen, die EBSD als Analysemethode verwenden und Fragen bei deren Einsatz haben. Das beginnt mit der Probenpräparation, die wegen der geringen Informationstiefe entscheidend das Messergebnis beeinflusst, schließt aber auch das Optimieren der Messparameter oder der Datenauswertung mit ein. Hauptziel ist, das generelle Verständnis der Messmethode zu verbessern, um Fehlerquellen rechtzeitig zu erkennen und Fehlinterpretationen weitestgehend zu verhindern.