Mikrostrukturcharakterisierung im Rasterelektronenmikroskop (EBSD)

Rasterelektronenmikroskopische kristallographische Charakterisierung mittels EBSD liefert orientierungsaufgelöste Karten von Körnern, Korngrenzen und Spannungsfeldern. Die Methode ermöglicht Quantifizierung von Textur, Korngrenzentypen und plastischer Deformation und ist zentral für Mikrostruktur–Eigenschafts-Zusammenhänge in Metall- und Keramiksystemen.

Gremien

  • Arbeitskreis

    Mikrostrukturcharakterisierung im Rasterelektronenmikroskop (EBSD)

    Gremienmitglieder: 5
    Leitung
    Dr. Gert Nolze
    Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

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