Arbeitskreis des Fachausschusses Materialographie
FIB - Anwendungen in der Materialographie

Ziele

  • Aufgreifen von industriellen und wissenschaftlichen Fragestellungen auf dem Gebiet der Focused Ion Beam (FIB)
  • Anwendungen in der Materialographie:
    • Probenpräparation für die Transmissionselektronenmikroskopie (einschließlich lift-out Techniken)
    • Querschnittspräparationen für die Rasterelektronenmikroskopie
    • Kontrastierungsverfahren für die Rasterelektronenmikroskopie (Orientierungskontrast durch Canneling, Materialkontrast infolge unterschiedlicher Abtragsraten, etc.)
    • FIB-Tomographie
    • Mikrobearbeitung (Micromachining)
  • Erarbeiten eines wissenschaftlich fundierten Verständnisses für die Wechselwirkungsprozesse bei der Materialbearbeitung
  • Initiieren von Forschungs- und Entwicklungsvorhaben: Gemeinsame Projekte von Forschungsinstituten, Anwenderindustrie und Geräteherstellern
  • Projekte zur Optimierung der Probenqualität und zur Verringerung der Gesamtpräparationszeit
  • Erfahrungsaustausch zwischen Gruppen, die auf dem Gebiet der FIB-Anwendung in der Materialographie arbeiten
  • Erarbeitung von Empfehlungen/Entwicklungsanforderungen für die FIB-Gerätehersteller
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