Materialographie
Materialografische Untersuchungen analysieren Mikrostruktur und Gefüge von Werkstoffen mittels Licht- und Elektronenmikroskopie, Härteprüfung, Ätzen und Bildanalyse. Ziel ist die Charakterisierung von Korngrenzen, Phasenverteilung, Einschlüs‑sen und Defekten sowie die Korrelation von Prozessparametern mit mechanischen und chemischen Eigenschaften. Präzise Probenpräparation und stereologische Methoden sichern quantitative Aussagekraft.
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Arbeitskreis
Archäo-Materialographie
Gremienmitglieder: 6
Leitung
Prof. Dr. Roland Haubner
Technische Universität Wien
Stellv. Leitung
Dr. Susanne Strobl
Technische Universität Wien
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Arbeitskreis
Atomsondentomographie
Gremienmitglieder: 14
Leitung
Prof. Dr. Peter Felfer
Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg
Stellv. Leitung
Dr.-Ing. Jenifer Barrirero
Universität des Saarlandes
Stellv. Leitung
Prof. Dr. Guido Schmitz
Universität Stuttgart
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Arbeitskreis
Ausbildung
Gremienmitglieder: 16
Leitung
Dr.-Ing. Volker Hinrichs
Lette-Verein Berlin
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Arbeitskreis
Bauteilmetallographie
Gremienmitglieder: 46
Leitung
Prof. Dr.-Ing. Magdalena Speicher
Hochschule Kempten
Leitung
Madeleine Giller
Siemens Energy Global GmbH & Co. KG
Leitung
Rudi Scheck
Universität Stuttgart
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Arbeitskreis
Elektronentomographie
Gremienmitglieder: 54
Leitung
Prof. Dr. Christian Kübel
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Stellv. Leitung
Dr. Daniel Wolf
Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf e.V.
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Arbeitskreis
FIB - Anwendungen in der Materialographie
Gremienmitglieder: 1
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Arbeitskreis
Fraktographie
Gremienmitglieder: 126
Leitung
Dr.-Ing. Dirk Bettge
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
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Arbeitskreis
In situ 2D und 3D Charakterisierung
Gremienmitglieder: 119
Leitung
PD Dr.-Ing. habil. Anja Weidner
Technische Universität Bergakademie Freiberg
Stellv. Leitung
Dr. Enrico Bruder
Technische Universität Darmstadt
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Arbeitskreis
Materialographie im Internet
Gremienmitglieder: 10
Leitung
Dipl.-Ing. Michael Engstler
Universität des Saarlandes
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Arbeitskreis
Mikrostrukturcharakterisierung im Rasterelektronenmikroskop (EBSD)
Gremienmitglieder: 5
Leitung
Dr. Gert Nolze
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
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Arbeitskreis
Probenpräparation
Gremienmitglieder: 38
Leitung
Dr. Holger Schnarr
Struers GmbH
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Arbeitskreis
Quantitative 3-D Mikroskopie von Oberflächen
Gremienmitglieder: 70
Leitung
Thorsten Dziomba
Physikalisch-Technische Bundesanstalt
Stellv. Leitung
André Felgner
Physikalisch-Technische Bundesanstalt
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Arbeitskreis
Quantitative Gefügeanalyse
Gremienmitglieder: 78
Leitung
Dr. rer. nat. Marco Witte
Salzgitter Mannesmann Forschung GmbH
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Arbeitskreis
Rasterkraftmikroskopie und nanomechanische Methoden
Gremienmitglieder: 94
Leitung
Prof. Dr. Christoph Kirchlechner
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
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Arbeitskreis
Regionale Arbeitskreise im FA Materialographie
Gremienmitglieder: 1
Leitung
Katrin Kuhnke
Speira GmbH
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Arbeitskreis
Röntgentomographie
Gremienmitglieder: 41
Leitung
Univ.-Prof. Dr. techn. Guillermo Requena
Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. (DLR)
Stellv. Leitung
Prof. Dr. Ehrenfried Zschech
deepXscan GmbH
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Arbeitskreis
Serienschnitt-Tomographie
Gremienmitglieder: 19
Leitung
Prof. Dr.-Ing. Frank Mücklich
Universität des Saarlandes
